CUBE-X 系列鍍層測(cè)厚儀
功能：
1、測(cè)量方向：由上向下
2、鍍層元素范圍：Al鋁～U鈾
3、電壓：50kV（1.2mA）
4、探測(cè)器（可選）：正比計(jì)數(shù)器、Si-Pin、SDD硅漂移
5、單準(zhǔn)直器：0.3mmØ、0.5mmØ,
6、多準(zhǔn)直器：0.1、0.2、0.3、0.5、0.05X0.05、0.05X0.25自動(dòng)6位準(zhǔn)直器
7、鍍層層數(shù)：多至5層
8、測(cè)量點(diǎn)尺寸：圓形測(cè)量點(diǎn)，直徑約0.2-0.8毫米
9、測(cè)量時(shí)間：30秒-180秒
10、樣品倉(cāng)尺寸：337 x 248 x 100 mm (長(zhǎng)x寬x高)
11、儀器尺寸：350 x 530 x 320 mm (長(zhǎng)x寬x高)
12、同時(shí)定量測(cè)量8個(gè)元素。
13、定性鑒定材料達(dá)24個(gè)元素。
14、自動(dòng)Z軸樣品臺(tái)
15、自動(dòng)XY平臺(tái)操控
16、攝像頭：40X高清CCD攝像頭